Zeta電位是納米材料的一種重要表征參數(shù)。很多微納米產(chǎn)品都需要表征其穩(wěn)定性，粒度大小、zeta電位、ph值、溫度、產(chǎn)品配方等會(huì)影響樣品穩(wěn)定性，而zeta電位是樣品穩(wěn)定性比較直觀(guān)的一個(gè)參數(shù)?，F(xiàn)代儀器可以通過(guò)簡(jiǎn)便的手段快速地測(cè)得。
常見(jiàn)的測(cè)試Zeta電位方法有幾種？
1.電泳光散射法
常見(jiàn)的測(cè)試zeta電位的方法是利用光學(xué)法，也就是電泳光散射法，由于此方法可以和動(dòng)態(tài)光散射法相結(jié)合，隨著納米粒度及zeta電位儀的市場(chǎng)擴(kuò)大，而這種方法被廣大客戶(hù)接受。
此方法的特點(diǎn)有：
樣品必須要進(jìn)行稀釋后測(cè)試；
不同濃度對(duì)測(cè)試結(jié)果影響比較大；
測(cè)試結(jié)果重復(fù)性較差，一般在±10mv以?xún)?nèi)；
2.超聲電聲法
電聲法不是采用光學(xué)方法，而是采用聲波信號(hào)，因此設(shè)備有聲波的優(yōu)勢(shì)。穿透力強(qiáng)，可以進(jìn)行原液測(cè)試。原液測(cè)試樣品的zeta電位時(shí)和稀釋后測(cè)試結(jié)果會(huì)不一樣，因?yàn)樵簳r(shí)顆粒的雙電層被壓縮。
此方法優(yōu)勢(shì)有：
樣品無(wú)需稀釋?zhuān)哼M(jìn)行測(cè)試分析樣品的粒徑和zeta電位值，更加表征樣品本身狀態(tài)。
測(cè)試結(jié)果重復(fù)性比較好。一般在±0.3mv以?xún)?nèi)。
可以測(cè)試微觀(guān)參數(shù)，如德拜長(zhǎng)度，杜坎數(shù)，雙電層的面電荷密度等。
3.流動(dòng)電位法
以上兩種方法主要是測(cè)試液體的zeta電位，有很多客戶(hù)需要測(cè)試固體表面的zeta電位，中空纖維內(nèi)部的zeta電位，膜表面的zeta電位等，此時(shí)即需要流動(dòng)法來(lái)進(jìn)行測(cè)試。即在樣品池中加入樣品，在一定壓力梯度下將緩沖液推入樣品池，緩沖液會(huì)帶動(dòng)樣品表面的電荷流向樣品池兩邊的電極，測(cè)試得到電壓值。
4.微電泳法
微電泳法測(cè)試zeta電位，前端兩側(cè)為四個(gè)電極，進(jìn)行正向和反向加電場(chǎng)，上方為ccd相機(jī)，進(jìn)行對(duì)運(yùn)動(dòng)的帶電粒子做視頻跟蹤，得到信號(hào)，從而得到每一個(gè)顆粒的遷移率，計(jì)算得到每個(gè)顆粒的zeta電位，從而得到zeta電位的分布。
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